MAITRISE STATISTIQUE DES PROCESSUS-MSP (FSS-MSP-01)

 

Objectif de la formation :

Rendre opérationnelle toute personne rencontrant dans son métier le besoin de mettre en œuvre la Maitrise Statistique des Processus dans le but de :

                       -   Valider les moyens de mesures

-   Mettre en œuvre les cartes de contrôle adaptées à leur

    procédé

-   Piloter les procédés par les cartes de contrôle

-   Dimensionner au plus juste les plans d’échantillonnage

-   Déterminer l’aptitude d’un procédé à répondre à des

    spécifications

 

Profil des stagiaires :

Ingénieurs et techniciens de tous secteurs. Niveau bac + 2 minimum

Pré-requis :

Connaissance en statistiques de base recommandée

Moyens pédagogiques :

Alternance d'exposés, de manipulations et d'exercices pratiques mis en œuvre dans le logiciel Minitab et Excel

Tests réalisés tout le long de la formation sous forme d'exercices pour évaluer et apprécier le résultat.

Durée :

42heures sur 6 jours

Tarif :

3000 € HT par stagiaire (pour le stage de 6 jours)

2000 € HT pour le stage de 4 jours (habituellement choisi par les stagiaires)

Formation éligible au DIF

Lieu :

Formation intra-entreprise

Note :

Possibilité de stage à la carte en ne choisissant que certains modules

 

 

PROGRAMME

 

1.  Pilotage des procédés par les cartes de contrôle (3 jours)

-       Fondements et concepts de la MSP (notion de cible, sources de variation, stabilité)

-       Rappels statistiques (loi normale, binomiale, Poisson, les métriques)

-       Cartes de contrôle type Shewhart (cartes de contrôle pour valeurs individuelles, pour échantillons, calcul des limites, efficacité des cartes de contrôle, règles de pilotage, application des limites élargies…)

-       Cartes EWMA et CUSUM

-       Cartes pour procédés multi dimensionnels

-       Cartes de contrôles aux attributs

-       Cas des distributions non gaussiennes

     

   2.   Etude de capabilité des processus (1 jour)

-       Introduction au calcul des indices de capabilité (Cp, Cpk, Pp, Ppk, Cpm)

-       Interprétation par les cartes de contrôle

-       Notion d’intervalles de confiance

-       Notion de chute de capabilité (capabilité machine, cout terme, long terme)

-       Cas des distributions non gaussiennes

 

 

    3.   Validation des moyens de mesures (1 jour)

-       Sources de variation (validité, linéarité, justesse, stabilité…)

-       Etude R&R (Reproductibilité et Répétabilité sur données continues ,définition de l’indice Cpc)

-       Etude R&R dans les cas non standards (destructif, borne unilatérale…)

-       Décision en cas de mauvais indice

-       Etude R&R sur données attributs (Méthode Kappa, ICC)

 

    4.   Contrôle Qualité (1 jour)

-       Notion fondamentale et définition (risquea, risqueb, NQA, NQR, efficacité, plans d’échantillonnage)

-       Plans de contrôle par mesures (acceptation ou rejet de lot, créer ou comparer un plan d’échantillonnage sur mesure)

-       Plans de contrôle par attributs